中国海关HS编码归类：HS code 9030820000
中国海关申报13位HS编码（含3位CIQ代码）:
| 10位HS编码+3位CIQ代码 |
商品描述 |
| 9030820000.999
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检测半导体晶片或器件的仪器(包括测试或检验半导体晶片或元器件用的装置)
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海关申报归类实例（商品通俗名称）
| HS 编码 |
商品名称 |
商品规格说明 |
| 90308200 |
芯片自动测试仪
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DS-168 |
| 90308200 |
芯片测试机
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320MX(品牌:SPEA) |
| 90308200 |
无独立使用功能的半导体测试机
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半导体测试机备件DS-610T |
| 90308200 |
三极管电性能检测仪
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TST-9600B |
| 90308200 |
全自动模块检测机
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SINO CARD牌 MTM-100型 |
| 90308200 |
内存条测试机(品牌:M&T)
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PVL-D/P5B 测试内存条通路,判断 |
| 90308200 |
晶体中间频率测试仪
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型号KS300 KOLINKER牌 |
| 90308200 |
晶体频率测试仪
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型号KS360 KOLINKER牌 |
| 90308200 |
晶体频率测试仪
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型号KH8210 KOLINKER牌 |
| 90308200 |
晶体检测仪
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NP3112816 |
| 90308200 |
晶片电阻检测仪(带记录装置)
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AX-1155B |
| 90308200 |
晶粒特性检测仪(旧)
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370,371A 1993年产 |
| 90308200 |
集成电路检测仪(品牌:AMD)
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用于检测CPU记存器是否有数据 |
| 90308200 |
集成电路检测仪(测试仪用) NEC牌
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PG-FP4-E (无配置无分选功能) |
| 90308200 |
集成电路检测仪(测试仪用)
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RENESAS牌 R0K33026AS000BE |
| 90308200 |
集成电路检测仪(测试仪用)
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RENESAS牌 HS0005KCU01H |
| 90308200 |
集成电路检测仪(测试仪用)
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Magnachip牌 SESO0700134 |
| 90308200 |
硅片自动分选机(旧)
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Roba 1502Ls 1999年产 |
| 90308200 |
硅片杂质浓度检测仪(旧)
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SSM490i 1994年产 |
| 90308200 |
硅片微粒子检测仪(旧)
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SFS6200 1995年产 |
| 90308200 |
硅片外延状态检测仪(旧)
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QS-300 1991年产 |
| 90308200 |
硅片平面特性检测仪(旧)
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S-8820 1996年产 |
| 90308200 |
硅片离子注入状态检测仪(旧)
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TP420 1995年产 |
| 90308200 |
硅片金属膜厚度检测仪(旧)
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MG-300 1994年产 |
| 90308200 |
硅片厚度检测仪(旧)
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NANOSPEC 1995年产 |
| 90308200 |
硅片工艺特征检测仪(旧)
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HP4145B 1993年产 |
| 90308200 |
硅片断面特性检测仪(旧)
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S-4300 2001年产 |
| 90308200 |
硅片电阻率检测仪(旧)
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RS55TC 1993年产 |
| 90308200 |
分立元件测试器(用于测量晶体管
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有显示结果,显示电阻值,测试范围 |
| 90308200 |
二极管测试机
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JL-16 |
| 90308200 |
测试仪 用于检测半导体晶片的信
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号功能 STM牌 STX-RLINK |
| 90308200 |
测试仪 用于检测半导体晶片的信
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号功能 STM牌 ST7FLIT2-IND/USB |
| 90308200 |
测试机(测试LED半导体,电气性能)
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TH-8000 |
| 90308200 |
测试机
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测试或检验半导体晶片或器件用 |
| 90308200 |
半导体晶体测试仪
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型号:KG200 KOLINKER牌 |
| 90308200 |
半导体晶片测试仪
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OMICRON CPC100 |
| 90308200 |
半导体检测仪,品牌ASM.
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用于检测贴片机贴装晶体元器件的 |
| 90308200 |
半导体检测器
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uni580/spider01 |
| 90308200 |
半导体测试治具/NVIDIA牌
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600-50358-0500-100 |
| 90308200 |
半导体测试治具/NVIDIA牌
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600-10551-0001-000 |
| 90308200 |
半导体测试机
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GPC-A351 |
| 90308200 |
I.C测试器(用于测试I.C是否故障,
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显示是否故障,适用于最多 40 个 |
9030 品目
物品描述 
