HS code: 9030820000

Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices

检测半导体晶片或器件的仪器;

中国HS编码商品归类
China HS Code Classification

中国海关HS编码归类：HS code 9030820000

HS目录树	描述
Chapter 90	第九十章; 光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备；上述物品的零件、附件
9030 品目	示波器、频谱分析仪及其他用于电量测量或检验的仪器和装置，但不包括品目9028的各钟仪表；α射线、β射线、γ射线、X射线、宇宙射线或其他离子射线的测量或检验仪器及装置
物品描述	检测半导体晶片或器件的仪器; Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices

中国海关申报13位HS编码（含3位CIQ代码）:

10位HS编码+3位CIQ代码	商品描述
9030820000-999	检测半导体晶片或器件的仪器(包括测试或检验半导体晶片或元器件用的装置)

海关申报归类实例（商品通俗名称）

HS 编码	商品名称	商品规格说明
90308200	芯片自动测试仪	DS-168
90308200	芯片测试机	320MX(品牌:SPEA)
90308200	无独立使用功能的半导体测试机	半导体测试机备件DS-610T
90308200	三极管电性能检测仪	TST-9600B
90308200	全自动模块检测机	SINO CARD牌 MTM-100型
90308200	内存条测试机(品牌:M&T)	PVL-D/P5B 测试内存条通路,判断
90308200	晶体中间频率测试仪	型号KS300 KOLINKER牌
90308200	晶体频率测试仪	型号KS360 KOLINKER牌
90308200	晶体频率测试仪	型号KH8210 KOLINKER牌
90308200	晶体检测仪	NP3112816
90308200	晶片电阻检测仪(带记录装置)	AX-1155B
90308200	晶粒特性检测仪(旧)	370,371A 1993年产
90308200	集成电路检测仪(品牌:AMD)	用于检测CPU记存器是否有数据
90308200	集成电路检测仪(测试仪用) NEC牌	PG-FP4-E (无配置无分选功能)
90308200	集成电路检测仪(测试仪用)	RENESAS牌 R0K33026AS000BE
90308200	集成电路检测仪(测试仪用)	RENESAS牌 HS0005KCU01H
90308200	集成电路检测仪(测试仪用)	Magnachip牌 SESO0700134
90308200	硅片自动分选机(旧)	Roba 1502Ls 1999年产
90308200	硅片杂质浓度检测仪(旧)	SSM490i 1994年产
90308200	硅片微粒子检测仪(旧)	SFS6200 1995年产
90308200	硅片外延状态检测仪(旧)	QS-300 1991年产
90308200	硅片平面特性检测仪(旧)	S-8820 1996年产
90308200	硅片离子注入状态检测仪(旧)	TP420 1995年产
90308200	硅片金属膜厚度检测仪(旧)	MG-300 1994年产
90308200	硅片厚度检测仪(旧)	NANOSPEC 1995年产
90308200	硅片工艺特征检测仪(旧)	HP4145B 1993年产
90308200	硅片断面特性检测仪(旧)	S-4300 2001年产
90308200	硅片电阻率检测仪(旧)	RS55TC 1993年产
90308200	分立元件测试器(用于测量晶体管	有显示结果,显示电阻值,测试范围
90308200	二极管测试机	JL-16
90308200	测试仪用于检测半导体晶片的信	号功能 STM牌 STX-RLINK
90308200	测试仪用于检测半导体晶片的信	号功能 STM牌 ST7FLIT2-IND/USB
90308200	测试机(测试LED半导体,电气性能)	TH-8000
90308200	测试机	测试或检验半导体晶片或器件用
90308200	半导体晶体测试仪	型号:KG200 KOLINKER牌
90308200	半导体晶片测试仪	OMICRON CPC100
90308200	半导体检测仪,品牌ASM.	用于检测贴片机贴装晶体元器件的
90308200	半导体检测器	uni580/spider01
90308200	半导体测试治具/NVIDIA牌	600-50358-0500-100
90308200	半导体测试治具/NVIDIA牌	600-10551-0001-000
90308200	半导体测试机	GPC-A351
90308200	I.C测试器(用于测试I.C是否故障,	显示是否故障,适用于最多 40 个

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	海关总署GACC注册申请
2021年4月，中国海关总署颁布了248号令和 249号令, 2项GACC法令规定： 2022年1月1日起，所有海外食品生产商和出口商都必须在海关总署办理了GACC注册才能进口中国！制造商GACC注册号必须印制在进口食品中文标签上！新的GACC注册，比以前AQSIQ备案复杂了非常多，制造商需要提供很多技术资料，一些类别还需要工厂的现场审查，审批时间少则1月，多则1年，需要境外制造商尽快办理，以免影响2022年的出口！了解更多>>>
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