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项目 Item |
内容 Content |
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| 标准代码 Standard Code |
GB/T 33922-2017 |
| 标准类别 Standard Class |
GB |
| 标准中文名称 Standard English Title |
MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法 |
| 标准英文名称 Standard Chinese Title |
Wafer level test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive die performances |
| 订购 Order |
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