GB/T 26068-2018 中国国家標準英文版簡介:

中华人民共和国国家标准
NATIONAL STANDARD OF THE PEOPLE'S REPUBLIC OF CHINA

GB/T 26068-2018

Issued Date:2018

Implemented Date:2019-11-1

Issued by:

The Standardization Administration of the People's Republic of China

英文版中文版

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標準代碼	GB/T 26068-2018
標準類別	China National Standards
標準中文名稱	Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers and silicon ingots—Non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance method
標準英文名稱	硅片和硅锭载流子复合寿命的测试-非接触微波反射光电导衰减法
中文版價格	每1頁￥1-5元
英文版翻譯費	大約每1頁￥100-200元 (約1,000 漢字)
页数
優惠特價	30~50% 折扣


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