GB/T 24578-2024  中国国家標準英文版簡介:

 
GB
中华人民共和国国家标准
NATIONAL STANDARD OF THE PEOPLE'S REPUBLIC OF CHINA

GB/T 24578-2024

Determination of metal contamination on the surface of semiconductor chips-Total reflection X-ray fluorescence spectrometry
半导体晶片表面金属沾污的测定-全反射X射线荧光光谱法

Issued Date:2024/7/24   Implemented Date:2025/2/1
Issued by:   The Standardization Administration of the People's Republic of China
 

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標準代碼 GB/T 24578-2024
標準類別 China National Standards
標準中文名稱 Determination of metal contamination on the surface of semiconductor chips-Total reflection X-ray fluorescence spectrometry{译}
標準英文名稱 半导体晶片表面金属沾污的测定-全反射X射线荧光光谱法
中文版價格 每1頁 ¥1-5元
英文版翻譯費 大約每1頁¥100-200元 (約1,000 漢字)
页数
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