GB/T?20176-2006  中国国家標準英文版簡介:

 
GB
中华人民共和国国家标准
NATIONAL STANDARD OF THE PEOPLE'S REPUBLIC OF CHINA

GB/T?20176-2006

Surface chemical analysis-Secondary-ion mass spectrometry-Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度

Issued Date:2006   Implemented Date:2006
Issued by:   The Standardization Administration of the People's Republic of China
 

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標準代碼 GB/T?20176-2006
標準類別 China National Standards
標準中文名稱 Surface chemical analysis-Secondary-ion mass spectrometry-Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
標準英文名稱 表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
中文版價格 每1頁 ¥1-5元
英文版翻譯費 大約每1頁¥100-200元 (約1,000 漢字)
页数
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